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电流的准确测量对测试结果至关重要,但想要准确测量电流就需要选用合适的电流探头与正确的测试方法。本文跟您说说电流测量那些事儿,并带您了解ZLG致远电子的测试方案。在日常的计量测试工作中,电流是一个相当重要的测量值。和使用采样电阻产生压降的方式测量电流相比,电流探头只需把导线完全绕在探头磁芯上就可以实现电流测试。这种方式不需要断电源来连接,可以在不破坏导线的情况下测量流经导线的电流,使用十分便捷。此外,电流探头与电压探头配合使用能够测试功率、相位等数据,这对于电气设计来说是非常有意义的。
半导体生产流程由晶圆,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。集成电路设计、、封装流程示意图WAT(WaferAcceptanceTest)测试,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),对Wafer划片槽(ScribeLine)测试键(TestKey)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定,CMOS的电容,电阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据,测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT测试机台上,由WATRecipe自动控制测试位置和内容,测完某条TestKey后,ProbeCard会自动移到下一条TestKey,直到整片Wafer测试完成。
常用α-三氧化二铝(Al2O3)或煅烧过的氧化镁(MgO)或石英砂作参比物。如分析试样为金属,也可以用金属镍粉作参比物。如果试样与参比物的热性质相差很远,则可用稀释试样的方法解决,主要是减少反应剧烈程度;如果试样加热过程中有气体产生时,可以减少气体大量出现,以免使试样冲出。选择的稀释剂不能与试样有任何化学反应或催化反应,常用的稀释剂有Si铁粉、Fe2O玻璃珠Al2O等。纸速的选择在相同的实验条件下,同一试样如走纸速度快,峰的面积大,但峰的形状平坦,误差小;走纸速率小,峰面积小。
市面上的多通道量产型编程器,通常都只有一路过流检测保护电路,检测到电源过流后直接关闭总电源输出。这种设计在一定程度上能起保护作用,但也存在明显的缺陷:其中一个通道发生过流时,触发过流保护并关闭电源输出,导致其他正常的通道无法烧录;过流阀值设置的很高,当只有一个通道电源短路时,短路电流可能达不到过流阀值而无法触发过流保护,导致该通道相应电源控制电路被烧毁;在板烧写时,如果板上有大容量电容,上电瞬间浪涌电流过大,可能误触发过流保护将电源关闭,导致烧录失败.为了解决这些问题,结合ZLG致远电子十多年编程器的研发经验,并收集了各行业客户反馈的建议后,我们在推出的P800系列编程器中重构了编程器的过流检测保护机制,核心设计是在每个编程通道都有过流检测保护。
主要从直角走线,差分走线,蛇形线等三个方面来阐述。1.直角走线直角走线一般是PCB布线中要求尽量避免的情况,也几乎成为衡量布线好坏的标准之一,那么直角走线究竟会对信号传输产生多大的影响呢?从原理上说,直角走线会使传输线的线宽发生变化,造成阻抗的不连续。其实不光是直角走线,顿角,锐角走线都可能会造成阻抗变化的情况。直角走线的对信号的影响就是主要体现在三个方面:一是拐角可以等效为传输线上的容性负载,减缓上升时间;二是阻抗不连续会造成信号的反射;三是直角 产生的EMI。
电机测试系统是一个轴与轴“对视”——轴对中的过程,与我们人类找一个合适的人其实非常类似,具体是怎么样类似呢?首先,我们人类牵手了,对视了,也有看错人的时候;那么对于轴对中来说,也就有对不准的时候。我们先有图有真相的看看,什么才是对准了?然而,有人会问,它只是个机器,没有对中没关系吧?我们可以想一想,如果遇到不对的人行不行?会不会吵架,甚至大打出手?所以,轴对中是一定要的。否则,轴与轴也会“大打出手”,轴的联轴节处会有力产生,轴承会过早地发生损坏;另外,轴也会“难过”,增大联轴节的摩擦,使机器的能源使用效率显著下降,运营成本提高。
在类内识别方面,HOKC等人[1]使用小波变换方法成功识别出了BPSK和4PSK信号;POLYDOROSA和KIMK[2]提出了似然比调制识别器,它成功地识别了BPSK和QPSK信号。在类间识别方面,KANNANR和RIDS[3]使用离散小波变换成功识别出DPSK、PSK和MSK;HAZZAA[4]等人提出基于特征的方法成功识别出FSK、ASK、PSK、QAM等信号,但是所设计的识别器计算量比较大。